2026-yil 14-oktabr kuni “INNO” innovatsion o‘quv va ishlab chiqarish texnoparki hududida Butunjahon standartlar kuni munosabati bilan “Standartlashtirish, metrologiya va muvofiqlikni baholash sohalaridagi innovatsion g‘oyalar va ishlanmalar ko‘rgazmasi” bo‘lib o‘tdi. Mazkur nufuzli xalqaro ko‘rgazmada O‘zbekiston milliy metrologiya instituti va uning hududiy filiallari ham faol ishtirok etib, metrologiya sohasida amalga oshirilayotgan ishlar, innovatsion ishlanmalar, ilmiy-texnik yechimlar hamda yaratilgan o‘lchash etalonlarini namoyish etdilar.

Ko‘rgazma doirasida institut va uning hududiy filiallari tomonidan taqdim etilgan ishlanmalar mamlakatimizda o‘lchashlar aniqligi va ishonchliligini ta’minlash, milliy etalonlar bazasini rivojlantirish, zamonaviy o‘lchash texnologiyalarini joriy etish hamda metrologiya sohasining ilmiy-texnik salohiyatini oshirish borasida olib borilayotgan izchil ishlarning amaliy natijalarini aks ettirdi.

Shuningdek, yaratilgan etalonlar va zamonaviy metrologik yechimlar orqali o‘lchashlar birliligini ta’minlash, mahsulotlar sifati va xavfsizligini baholash, ishlab chiqarish jarayonlarining samaradorligini oshirish hamda xalqaro talablarga muvofiqlikni ta’minlashda metrologiyaning muhim o‘rni namoyon etildi. Mazkur ko‘rgazma institut mutaxassislari uchun mahalliy va xorijiy ekspertlar, ilmiy-tadqiqot muassasalari vakillari hamda tadbirkorlik subyektlari bilan tajriba almashish, yangi hamkorlik aloqalarini yo‘lga qo‘yish va istiqbolli loyihalarni muhokama qilish uchun muhim maydon bo‘lib xizmat qildi.

O‘zbekiston milliy metrologiya institutining “Standartlashtirish, metrologiya va muvofiqlikni baholash sohalaridagi innovatsion g‘oyalar va ishlanmalar ko‘rgazmasi”dagi ishtiroki milliy metrologiya tizimini yanada rivojlantirish, ilmiy-texnik yutuqlarni amaliyotga tatbiq etish hamda mamlakatimiz metrologiya sohasining xalqaro miqyosdagi nufuzini mustahkamlashga xizmat qiladi.

13-oktabr — Konferensiyaning birinchi kunida Xalqaro tarozi va o‘lchovlar qo‘mitasi (CIPM) prezidenti hamda Xalqaro tarozi va o‘lchovlar byurosi (BIPM) direktorining ma’ruzalari tinglandi. Shuningdek, BIPMning moliyaviy faoliyati, 2028–2031-yillarga mo‘ljallangan ish dasturi va xalqaro metrologiya tizimini rivojlantirish istiqbollari ko‘rib chiqildi. Kun davomida xalqaro metrologiyaning dolzarb yo‘nalishlari, zamonaviy ilmiy tadqiqotlar va ilg‘or texnologik ishlanmalarga bag‘ishlangan poster taqdimotlari ham tashkil etildi.

14-oktabr —Konferensiyaning ikkinchi kunida muhokamalar quyidagi asosiy yo‘nalishlar bo‘yicha davom etdi:

BIPM faoliyatini modernizatsiya qilish. Tashkilotning moliyaviy barqarorligini ta’minlash, boshqaruv tizimini takomillashtirish va xalqaro hamkorlikni kengaytirish masalalari muhokama qilinmoqda. Shuningdek, CGPMning protsedura qoidalarini qabul qilishga oid F rezolyutsiya loyihasi ko‘rib chiqildi.

Yangi texnologiyalar uchun metrologiya. Biotexnologiyalar va kvant kommunikatsiyalari sohalarida aniq va ishonchli o‘lchashlarni ta’minlash, zamonaviy metrologik imkoniyatlarni kengaytirishga bag‘ishlangan ma’ruzalar va davra suhbatlari o‘tkazildi.

Metrik konvensiyaga davlatlarning kengroq qo‘shilishi. Xalqaro metrologiya tizimida davlatlar ishtirokini kengaytirish, xalqaro tashkilotlar o‘rtasidagi hamkorlikni mustahkamlash masalalari muhokama qilindi. Ushbu yo‘nalishda Metrik konvensiyaga umumiy qo‘shilish to‘g‘risidagi A rezolyutsiya loyihasi ko‘rib chiqildi.